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PRODUCTS CENTER當前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心半導體專(zhuān)用檢測儀器設備XRDFreiberg-Omega/Theta XRDOmega/Theta XRD- 搖擺曲線(xiàn)測量
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PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
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晶體反射的搖擺曲線(xiàn)表示晶格的質(zhì)量。這可以點(diǎn)下來(lái)進(jìn)行快速檢查,也可以與Mapping工具結合起來(lái),得到一個(gè)質(zhì)量圖。
測量搖擺曲線(xiàn)意味著(zhù)在Theta-scan模式下進(jìn)行測量,這需要一個(gè)測角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑,以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而,其副作用是強烈的強度降低。因此,雙晶體被安裝在一個(gè)可伸縮的支架上,以便能夠將其 "打開(kāi) "或 "關(guān)閉"。
Rocking curves of a 6H SiC crystal measured along a line on spots of 8 mm distance
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